緑色のセルのみが塗りつぶされた64枚の半完成ベイヤーカラーフィルター画像があり、塗り...
機械学習を用いた半導体ウェーハの欠陥検査は、走査型電子顕微鏡(SEM)画像を用いて...
Reduce inspection costs by 40% or more. ・Accuracy of pass detection is over 80%. Failure…
ベイヤーカラーフィルターの白黒 SEM 画像データセット(300枚の画像を含む)が与えられ...
半導体製造において、製品の品質は主に顕微鏡(光学顕微鏡、透過型電子顕微鏡(TEM)...